PHABRIX présente un ensemble d’outils pour les tests de stress des interfaces SDI !
PHABRIX présente la nouvelle option SDI-STRESS de la série Qx au salon NAB 2019. L’option SDI-STRESS fournit un ensemble d’outils avancés pour les tests de stress des interfaces SDI. En plus de l’analyse automatisée de la couche physique 12G-SDI utilisant la technologie RTE™ (Real-Time Eye), le SDI-STRESS offre une solution de classe mondiale pour la vérification de conformité SMPTE des interfaces 12G/4x3G/2x6G/6G/3G/HD-SDI.
La boîte à outils SDI-STRESS comprend des histogrammes complets et fenêtrés de l’amplitude de l’œil avec mesure de l’amplitude (Peak) maximale ou moyenne (Mean) de l’œil. De plus, il inclut l’insertion de jitter dans le SDI (10Hz à 10MHz, 0.01UI à 16UI), l’ajustement de l’amplitude des yeux (+/-10%), le temps de montée, la préaccentuation, l’inversion du signal et le contrôle du silence fonctionnant avec le générateur de barres couleur vidéo avec insertion pathologique comme source ou un nouvel outil de génération PRBS (PRBS7, 9, 15, 23, 31), couplé à un nouvel analyseur de signal BERT.
SDI Eye Analysis 
SDI Jitter Analysis
Un nouveau détecteur d’état pathologique EQ/PLL avec déclenchement en temps réel sur la sortie GPI est également fourni, le tout sous contrôle REST API.
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